高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品

美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，

其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。

1) Film Wizard 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件

应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。

2) FilmTek 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.

1.多层厚度（1 纳米 到 250 微米）

2.折射率n

3.吸收系数k

4.双折射率

5.能隙（Eg）

6.表面粗糙度和损伤

7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）

8.薄膜温度特性

9.晶元曲率和薄膜耐压性

应用实例，上海半导体研发中心成功引进SCI的FilmTek 2000。

详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：

电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生

邮件：wangdongmei@eccn.com  benchan@eccn.com

网址：http://www.emdeccn.com